夹缝扫描式光束分析仪系统_深圳市浩源光电技术有限公司

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夹缝扫描式光束分析仪系统

深圳市浩源光电技术有限公司公司成立于2005年，致力于光源测试设备的研发和生产。其产品广泛应用于光通讯、干涉测量、和光纤传感测试等领域，是公认的一家致力于光应用产品厂商。深圳市浩源光电技术有限公司于2017年引进世界先进技术，深入研究激光光束质量的分析及能量分布，结合国内厂商实际生产需求推出HY系列BPS-GE-0103光束质量分析系统。

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HY-BPS-GE-0103系列---光束分析仪系统

夹缝扫描式光束分析仪系统(图1)

夹缝扫描式光束分析仪系统(图2)

测量原理

在一个光电探测器前两个正交的狭缝穿过光束。透过狭缝的光束照在探测器上导致电流产生，探测器产生的信号与透过狭缝的光束辐照度成线性比例。一个数字编码器能准确地测得狭缝位置。光致发光所产生的电流信号被转为数字信号并被加以分析，最后获得X轴和Y轴的光束轮廓。而狭缝则相当于一个物理衰减器，可以防止施加在探测器上的光束过强而使探测器饱和。

软件界面

夹缝扫描式光束分析仪系统(图3)

每种脉冲频率所能测得的最小光斑尺寸
BPS-GE-0103	大圆鼓（HP）
转动频率（Hz）	1.25	2.50	5.00	10.00
狭缝速度（μm/msec）	233.25	466.50	933.01	1866.01
每个轮廓的数据点	15	15	15	15
脉冲频率（kHz）	最小光束直径（μm）
0.5	6998	13995	N/A	N/A
1	3499	6998	13995	N/A
2	1749	3499	6998	13995
3	1166	2333	4665	9330
4	875	1749	3499	6998
5	700	1400	2799	5598
6	583	1166	2333	4665
7	500	1000	1999	3999
8	437	875	1749	3499
9	389	778	1555	3110
10	350	700	1400	2799
11	318	636	1272	2545
12	292	583	1166	2333
13	269	538	1077	2153
14	250	500	1000	1999
15	233	467	933	1866
16	219	437	875	1749
17	206	412	823	1646
18	194	389	778	1555
19	184	368	737	1473
20	175	350	700	1400
21	167	333	666	1333
22	159	318	636	1272
23	152	304	608	1217
24	146	292	583	1166
25	140	280	560	1120
50	70	140	280	560
100	35	70	140	280
150	23	47	93	187

夹缝扫描式光束分析仪系统(图4)

主要特点及功能：

· 可测量连续激光以及大于1KHz重频的脉冲激光

· 取样间隔可以调节小到5.7nm，使其能够极其精确地测量非常小的光斑，

· 可显示2D/3D光斑形貌

· 扫描速度可调谐

· 12位数字化信号采集，35dB高动态范围，20Hz最大扫描探扫描频率

· 支持用户进行二次开发，便于集成

· 探头可添加功率计选项

· 硅、锗和热释电探测器可选，测量范围可覆盖很宽的光谱范围和功率级别

· 不加衰减就可以测量较高功率或焦点处光斑

· 所有的BPS-GE-0103的校准都可以朔源NIST标准以确保最终的精度

· 符合国际标准ISO/DIN 11146及ISO13694。

夹缝扫描式光束分析仪系统(图5)

BPS-GE-0103能测量的功率取决于被测激光的波长。波长不但决定了在狭缝表面的反射率而且决定了与材料的能量交互作用。一般来讲，下面三个基本波长范围阐明了探头所能测量的功率范围。

n 3μm-FIR(＞20μm)：热释电探测器最大100W。

n 700nm-3μm：热释电探测器最大25W；锗探测器最大1W。

n 190-700mn：热释电探测器最大3W；硅探测器最大1W

BPS-GE-0103规格

探测器类型	功率范围	波长范围	孔径	狭缝尺寸	探头尺寸
硅	~100nW~100mW	190nm-950nm	3.5mm	1.8μm	63mm
			9mm	5μm	63mm
				25μm
			25mm	25μm	100mm
锗	1μW~100mW	700nm-1800nm	3.5mm	1.8μm	63mm
			9mm	5μm	63mm
				25μm
			12mm	25μm	100mm
热释电	100mW~100W	200nm-100μm	9mm	5μm	63mm
				25μm
			20mm	25μm	100mm

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